Le module d’analyse de faisceau pour microscopie laser CINOGY convient aux mesures au point de focalisation et à l’imagerie de champ proche en sortie de fibre ou de diodes laser sur un large spectre. La configuration est basée sur les modèles compacts CinCam CMOS et peut être assemblée avec différents objectifs de microscope. Ces objectifs de microscope étalonnés assurent une précision maximale et permettent l’imagerie des structures de petits faisceaux à la limite de diffraction.
Applications de l’analyseur de faisceaux laser CinSpot
L’analyseur de faisceaux laser en champ proche CinSpot est conçu pour la caractérisation précise des faisceaux laser dans les environnements de recherche, de développement et de production. Il permet l’analyse des profils de faisceaux issus de fibres optiques, de diodes laser et de sources laser utilisées dans les applications photoniques avancées.
Grâce à sa haute résolution et à ses différents grossissements, le CinSpot offre une visualisation détaillée du profil du faisceau au point de focalisation. Il constitue un outil de choix pour les laboratoires, les centres de recherche et les industriels souhaitant optimiser les performances de leurs systèmes laser.
Avantages du CinSpot pour la métrologie laser
Le CinSpot offre de nombreux avantages pour les mesures de faisceaux laser :
- Mesure précise des profils de faisceaux laser
- Haute résolution spatiale jusqu’à 1 µm
- Différents grossissements disponibles selon l’application
- Capteurs CMOS performants
- Calibration réalisée en usine
- Intégration facile dans les bancs de mesure existants
- Compatible avec de nombreuses longueurs d’onde, y compris l’option infrarouge
Ces caractéristiques permettent d’obtenir des résultats fiables et reproductibles pour les applications nécessitant un contrôle précis de la qualité du faisceau laser.
Domaines d’utilisation
L’analyseur de faisceaux laser en champ proche CinSpot est particulièrement utilisé dans les domaines suivants :
- Photonique et optique de précision
- Recherche scientifique
- Développement de systèmes laser
- Télécommunications par fibre optique
- Contrôle qualité en environnement industriel
- Instrumentation et métrologie laser
Pour compléter votre système de caractérisation, découvrez également notre gamme d’analyseurs de faisceaux laser et nos solutions de métrologie laser.
Points forts :
- Basé sur les capteurs CMOS
- Option IR (1470-1065nm) disponible
- Vendu calibré
| Grossissement | x4 | x10 | x20 | x40 |
| Réponse spectrale | 320-1150nm | |||
| BitRate | 8Bit/10Bit | |||
| Ouverture Numérique (N.A) | 0.1 | 0.25 | 0.4 | 0.65 |
| Distance de travail | 15.8mm | 6.4mm | 0.8mm | 0.6mm |
| Focale | 29.8mm | 17.19mm | 8.33mm | 4.03mm |
| Résolution optique | 2µm | 1.5µm | 1.2µm | 1.0µm |
| Précision | <2% | <2% | <2% | <2% |
| Capteur | CinCam CMOS/ CinCam CMOS Nano | |||
| Puissance Max | 100mW | 100mW | 10mW | 10mW |
